LPKF ScanCheck MicroView

LPKF ScanCheck MicroView est le système d’inspection à utiliser pour le contrôle des stencils « waferbump » de qualité extra fine et des écrans de précision. Ce contrôle se fait grâce à son excellente résolution de 5000 ppp optiquement (25000 ppp par interpolation).
Il est possible de contrôler le niveau de poussière, les détails géométriques (tels que la forme, la position et la taille), les trous mal formés, etc., des stencils dotés d’ouvertures de près de 12 µm de diamètre.

Le système est protégé par un boîtier de protection l’isolant de toute contamination par la poussière. Son logiciel puissant et intuitif fait des inspections une tâche facile.

Le champ d’action de la caméra est librement sélectionnable jusqu’à 610 mm x 460 mm. Elle balaye avec de la lumière transmise et compare les images à l’aide des données FAO. Les tolérances aux erreurs sont ajustables individuellement et toutes les erreurs détectées sont énumérées dans un rapport détaillé pour examen.

Avec le progrès constant de la miniaturisation, la vérification des structures les plus petites après leur fabrication devient de plus en plus cruciale. Le LPKF MicroView ScanCheck apporte sûreté.

Le système d’inspection LPKF ScanCheck MicroView garantit le niveau de qualité le plus élevé en matière de vérification des produits, et fournit ainsi une base pour la certification ISO 9000.